Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level - Michael K. Miller - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461369219 - 28 de octubre de 2012
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Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

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The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.


254 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 28 de octubre de 2012
ISBN13 9781461369219
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 239
Dimensiones 170 × 244 × 14 mm   ·   426 g
Lengua Inglés  

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