Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level - Michael K. Miller - Libros - Springer Science+Business Media - 9780306464157 - 31 de julio de 2000
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Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level 2000 edition

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The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.


239 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de julio de 2000
ISBN13 9780306464157
Editores Springer Science+Business Media
Páginas 239
Dimensiones 170 × 244 × 20 mm   ·   544 g
Lengua Inglés  

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