Fundamentals of Nanoscale Film Analysis - Terry L. Alford - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387292601 - 16 de febrero de 2007
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Fundamentals of Nanoscale Film Analysis 2007 edition

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From materials science to integrated circuit development, technology is moving from the microscale toward the nanoscale. This book reviews the fundamental physics underlying techniques for analyzing the surfaces and near-surfaces.


350 pages, 200 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 16 de febrero de 2007
ISBN13 9780387292601
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 350
Dimensiones 166 × 243 × 27 mm   ·   703 g
Lengua Inglés  

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