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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series Reifenberger, Ronald G (Purdue Univ, Usa)
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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series
Reifenberger, Ronald G (Purdue Univ, Usa)
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
350 pages
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 12 de noviembre de 2015 |
| ISBN13 | 9789814630351 |
| Editores | World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
| Páginas | 342 |
| Dimensiones | 229 × 155 × 19 mm · 492 g |
