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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series Reifenberger, Ronald G (Purdue Univ, Usa)
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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations - Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series
Reifenberger, Ronald G (Purdue Univ, Usa)
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
350 pages
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 12 de noviembre de 2015 |
| ISBN13 | 9789814630344 |
| Editores | World Scientific Publishing Co Pte Ltd |
| Páginas | 342 |
| Dimensiones | 158 × 238 × 23 mm · 614 g |
