CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing - Andrei Pavlov - Libros - Springer - 9789048178551 - 28 de octubre de 2010
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Andrei Pavlov
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

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The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

210 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 28 de octubre de 2010
ISBN13 9789048178551
Editores Springer
Páginas 194
Dimensiones 155 × 235 × 11 mm   ·   303 g
Lengua Inglés  

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