CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing - Andrei Pavlov - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402083624 - 21 de junio de 2008
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Andrei Pavlov
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test - Frontiers in Electronic Testing 2008 edition

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The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

210 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 21 de junio de 2008
ISBN13 9781402083624
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 194
Dimensiones 166 × 239 × 19 mm   ·   476 g
Lengua Inglés  

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