Electron Nano-imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM - Nobuo Tanaka - Libros - Springer Verlag, Japan - 9784431569398 - 3 de agosto de 2024
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Electron Nano-imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM Second Edition 2024 edition

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In this second edition, most chapters of the first edition, which published in 2017, have been revised and recent advancement of electron microscopy such as differential phase contrast (DPC) STEM, sparse-coding image processing and quantum electron microscopy have been supplemented with further details.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 3 de agosto de 2024
ISBN13 9784431569398
Editores Springer Verlag, Japan
Páginas 384
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   839 g

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