Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM - Nobuo Tanaka - Libros - Springer Verlag, Japan - 9784431568049 - 25 de julio de 2018
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Nobuo Tanaka
Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM Softcover reprint of the original 1st ed. 2017 edition

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In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook.

333 pages, 10 Tables, color; 22 Illustrations, color; 107 Illustrations, black and white; XXVIII, 33

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 25 de julio de 2018
ISBN13 9784431568049
Editores Springer Verlag, Japan
Páginas 333
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   618 g

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