Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 - Springer Series in Chemical Physics - A Benninghoven - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642822582 - 10 de enero de 2012
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 - Springer Series in Chemical Physics Softcover reprint of the original 1st ed. 1984 edition

Precio
$ 104,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 28 de jul. - 10 de ago.
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

(4) Outstanding SIMS-related analytical methods such as laser-microprobe SIMS, sputtered neutral mass spectrometry, mass spectrometry of sputtered neutrals by multi-photon resonance ionization, and accelerator-based SIMS.


506 pages, black & white illustrations, bibliography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 10 de enero de 2012
ISBN13 9783642822582
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 506
Dimensiones 155 × 235 × 27 mm   ·   730 g
Lengua Alemán  
Editor Benninghoven, A.
Editor Okano, J.
Editor Shimizu, R.
Editor Werner, H.W.

Mas por A Benninghoven

Mostrar todo

Mere med samme udgiver