Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science - Johann-Martin Spaeth - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627224 - 14 de septiembre de 2012
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Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

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The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.


492 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 14 de septiembre de 2012
ISBN13 9783642627224
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 492
Dimensiones 155 × 235 × 25 mm   ·   703 g
Lengua Inglés  
Colaborador Hans-Joachim Queisser

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