Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science - Johann-Martin Spaeth - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540426950 - 22 de enero de 2003
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Johann-Martin Spaeth
Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions - Springer Series in Materials Science 2003 edition

Precio
$ 210,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 29 de jun. - 10 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap peared about 10 years ago.

492 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 22 de enero de 2003
ISBN13 9783540426950
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 492
Dimensiones 155 × 235 × 28 mm   ·   884 g
Lengua Inglés   Alemán  
Colaborador Hans-Joachim Queisser

Mere med samme udgiver

Ver todo de Johann-Martin Spaeth ( Ej. Paperback Book y Hardcover Book )