Photomodulated Optical Reflectance: A Fundamental Study Aimed at Non-Destructive Carrier Profiling in Silicon - Springer Theses - Janusz Bogdanowicz - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642426865 - 17 de julio de 2014
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Janusz Bogdanowicz
Photomodulated Optical Reflectance: A Fundamental Study Aimed at Non-Destructive Carrier Profiling in Silicon - Springer Theses 2012 edition

Precio
$ 104,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 21 de jul. - 3 de ago.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

Among the plethora of measurement techniques, the optical reflectance approach developed in this work is the sole concept that does not require physical contact, making it suitable for non-invasive in-line metrology.

204 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 17 de julio de 2014
ISBN13 9783642426865
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 204
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   326 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Janusz Bogdanowicz ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )