Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642062285 - 23 de noviembre de 2010
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Mathias Schubert
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition

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The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

196 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 23 de noviembre de 2010
ISBN13 9783642062285
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 196
Dimensiones 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Lengua Inglés  

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