Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540232490 - 26 de noviembre de 2004
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics 2004 edition

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The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.


196 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de noviembre de 2004
ISBN13 9783540232490
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 196
Dimensiones 155 × 232 × 12 mm   ·   476 g
Lengua Inglés   Alemán  

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