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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Mathias Schubert 2004 edition
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics
Mathias Schubert
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.
196 pages, biography
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 26 de noviembre de 2004 |
| ISBN13 | 9783540232490 |
| Editores | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Páginas | 196 |
| Dimensiones | 155 × 232 × 12 mm · 476 g |
| Lengua | Inglés Alemán |