Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science - Stefan Rein - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540253037 - 23 de junio de 2005
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Stefan Rein
Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science 2005 edition

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Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.

492 pages, 29 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 23 de junio de 2005
ISBN13 9783540253037
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 492
Dimensiones 241 × 166 × 37 mm   ·   950 g
Lengua Inglés   Alemán  

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