R.F. Egerton
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM R.F. Egerton Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

Name: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
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Author: R.F. Egerton

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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

R.F. Egerton

Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

196 pages, 15 Illustrations, color; 109 Illustrations, black and white; XI, 196 p. 124 illus., 15 il

Medios de comunicación	Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado	30 de mayo de 2018
ISBN13	9783319819860
Editores	Springer International Publishing AG
Páginas	196
Dimensiones	234 × 156 × 16 mm · 334 g
Lengua	Alemán