R.F. Egerton
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM R.F. Egerton 2nd ed. 2016 edition

Name: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

R.F. Egerton

2nd ed. 2016 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.

207 pages, 109 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography

Medios de comunicación	Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado	7 de julio de 2016
ISBN13	9783319398761
Editores	Springer International Publishing AG
Páginas	196
Dimensiones	165 × 243 × 22 mm · 471 g
Lengua	Alemán