Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences - - Libros - Springer International Publishing AG - 9783319756868 - 19 de marzo de 2018
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences 2018 edition

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521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 19 de marzo de 2018
ISBN13 9783319756868
Editores Springer International Publishing AG
Páginas 521
Dimensiones 242 × 167 × 38 mm   ·   986 g
Lengua Alemán  
Editor Glatzel, Thilo
Editor Sadewasser, Sascha

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