Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences -  - Libros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030092986 - 4 de enero de 2019
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition

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521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 4 de enero de 2019
ISBN13 9783030092986
Editores Springer Nature Switzerland AG
Páginas 521
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   757 g
Lengua Alemán  
Editor Glatzel, Thilo
Editor Sadewasser, Sascha

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