Life-Cycle Assessment of Semiconductors - Sarah B. Boyd - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489992239 - 17 de septiembre de 2014
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Life-Cycle Assessment of Semiconductors 2012 edition

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Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices.


226 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 17 de septiembre de 2014
ISBN13 9781489992239
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 226
Dimensiones 155 × 235 × 14 mm   ·   362 g
Lengua Inglés  

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