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Life-Cycle Assessment of Semiconductors Sarah B. Boyd 2012 edition
Life-Cycle Assessment of Semiconductors
Sarah B. Boyd
Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices.
226 pages, biography
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 17 de septiembre de 2014 |
| ISBN13 | 9781489992239 |
| Editores | Springer-Verlag New York Inc. |
| Páginas | 226 |
| Dimensiones | 155 × 235 × 14 mm · 362 g |
| Lengua | Inglés |