Life-Cycle Assessment of Semiconductors - Sarah B. Boyd - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999870 - 12 de octubre de 2011
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Life-Cycle Assessment of Semiconductors 2012 edition

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Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices.


226 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 12 de octubre de 2011
ISBN13 9781441999870
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 226
Dimensiones 155 × 235 × 15 mm   ·   535 g
Lengua Inglés  

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