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Life-Cycle Assessment of Semiconductors Sarah B. Boyd 2012 edition
Life-Cycle Assessment of Semiconductors
Sarah B. Boyd
Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices.
226 pages, biography
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 12 de octubre de 2011 |
| ISBN13 | 9781441999870 |
| Editores | Springer-Verlag New York Inc. |
| Páginas | 226 |
| Dimensiones | 155 × 235 × 15 mm · 535 g |
| Lengua | Inglés |