Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489987877 - 13 de abril de 2014
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Ruijing Shen
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

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This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

306 pages, 61 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 13 de abril de 2014
ISBN13 9781489987877
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 306
Dimensiones 155 × 235 × 18 mm   ·   511 g
Lengua Inglés  

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