Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing - Benoit Nadeau-dostie - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475782912 - 26 de abril de 2013
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Benoit Nadeau-dostie
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 26 de abril de 2013
ISBN13 9781475782912
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 239
Dimensiones 178 × 254 × 14 mm   ·   458 g
Lengua Inglés  
Editor Nadeau-Dostie, Benoit

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