Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing - Benoit Nadeau-dostie - Libros - Springer - 9780792386698 - 30 de septiembre de 1999
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Benoit Nadeau-dostie
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing 2000 edition

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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de septiembre de 1999
ISBN13 9780792386698
Editores Springer
Páginas 239
Dimensiones 178 × 254 × 15 mm   ·   653 g
Lengua Inglés  
Editor Nadeau-Dostie, Benoit

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