CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475778007 - 26 de abril de 2013
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Rohit Kapur
CTL for Test Information of Digital ICs Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

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173 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 26 de abril de 2013
ISBN13 9781475778007
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 173
Dimensiones 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Lengua Inglés  

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