CTL for Test Information of Digital ICs - Rohit Kapur - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402072932 - 31 de octubre de 2002
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CTL for Test Information of Digital ICs 2002 edition

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From the reviews: "[...] a welcome addition to the literature. [...] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability


173 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de octubre de 2002
ISBN13 9781402072932
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 173
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   439 g
Lengua Inglés  

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