A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing - Charles E. Stroud - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475776263 - 18 de marzo de 2013
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A Designer's Guide to Built-In Self-Test - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

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A recent technological advance is the art of designing circuits to test themselves, referred to as a Built-In Self-Test. This book is written from a designer's perspective and describes the major BIST approaches that have been proposed and implemented, along with their advantages and limitations.


340 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 18 de marzo de 2013
ISBN13 9781475776263
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 320
Dimensiones 155 × 235 × 18 mm   ·   480 g
Lengua Inglés  

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