Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - Tibor Grasser - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461479086 - 23 de octubre de 2013
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Tibor Grasser
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits 2014 edition

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Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

864 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 23 de octubre de 2013
ISBN13 9781461479086
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 810
Dimensiones 158 × 241 × 50 mm   ·   1,50 kg
Lengua Inglés  
Editor Grasser, Tibor

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