Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses - Weronika Walkosz - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461428572 - 28 de mayo de 2013
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Weronika Walkosz
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses 2011 edition

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This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

176 pages, 2 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 28 de mayo de 2013
ISBN13 9781461428572
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 110
Dimensiones 155 × 235 × 6 mm   ·   185 g
Lengua Inglés  

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