Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses - Weronika Walkosz - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441978165 - 19 de abril de 2011
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Weronika Walkosz
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces - Springer Theses 2011 edition

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This book offers results that influence many high temperature and pressure applications. It provides findings that will offer increased control over the performance of ceramic and semiconductor materials for a wide-range of applications.

176 pages, 2 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 19 de abril de 2011
ISBN13 9781441978165
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 110
Dimensiones 162 × 241 × 12 mm   ·   317 g
Lengua Inglés  

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