Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4 de octubre de 2012
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Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

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This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 4 de octubre de 2012
ISBN13 9781461377986
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 167
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Lengua Inglés  
Editor Zorian, Yervant

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