Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461372318 - 9 de noviembre de 2012
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Lawrence C Wagner
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1999 edition

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This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 9 de noviembre de 2012
ISBN13 9781461372318
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 255
Dimensiones 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g
Lengua Inglés  
Editor Wagner, Lawrence C.

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