Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461364290 - 27 de septiembre de 2012
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Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition

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229 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 27 de septiembre de 2012
ISBN13 9781461364290
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 229
Dimensiones 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Lengua Inglés  

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