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Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Yusuf Leblebici Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition
Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science
Yusuf Leblebici
229 pages, biography
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 27 de septiembre de 2012 |
| ISBN13 | 9781461364290 |
| Editores | Springer-Verlag New York Inc. |
| Páginas | 229 |
| Dimensiones | 155 × 235 × 13 mm · 335 g |
| Lengua | Inglés |