Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Jose Pineda de Gyvez - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363835 - 23 de febrero de 2014
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Jose Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

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The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

191 pages, 48 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 23 de febrero de 2014
ISBN13 9781461363835
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 167
Dimensiones 155 × 235 × 11 mm   ·   281 g
Lengua Inglés  

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