Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Jose Pineda de Gyvez - Libros - Springer - 9780792393061 - 31 de diciembre de 1992
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Jose Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

Precio
$ 122,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 17 de jun. - 6 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

167 pages, 48 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de diciembre de 1992
ISBN13 9780792393061
Editores Springer
Páginas 167
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   453 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Jose Pineda de Gyvez ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )