IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - 12 de octubre de 2012
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Ravi K Gulati
IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

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Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 12 de octubre de 2012
ISBN13 9781461363774
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 124
Dimensiones 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
Lengua Inglés  
Editor Gulati, Ravi K.
Editor Hawkins, Charles F.

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