Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits - Jian Cheng Zhang - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461359357 - 2 de noviembre de 2012
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Jian Cheng Zhang
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Precio
$ 106,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 23 de jun. - 6 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.

234 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 2 de noviembre de 2012
Fecha de lanzamiento original 1995
ISBN13 9781461359357
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 234
Dimensiones 155 × 235 × 13 mm   ·   362 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Jian Cheng Zhang ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )