Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits - Jian Cheng Zhang - Libros - Springer - 9780792395515 - 28 de febrero de 1995
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Jian Cheng Zhang
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits 1995 edition

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Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.

234 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 28 de febrero de 1995
ISBN13 9780792395515
Editores Springer
Páginas 234
Dimensiones 155 × 235 × 15 mm   ·   539 g
Lengua Inglés  

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