Learning from Good and Bad Data - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Philip D. Laird - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461289517 - 5 de octubre de 2011
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Learning from Good and Bad Data - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition

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This monograph is a contribution to the study of the identification problem: the problem of identifying an item from a known class us ing positive and negative examples. * Study cognitive models of learning in humans and extrapolate from them general principles to explain learning behavior.


212 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 5 de octubre de 2011
ISBN13 9781461289517
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 212
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   331 g
Lengua Inglés  

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