From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing - Jitendra B. Khare - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461285953 - 26 de septiembre de 2011
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Jitendra B. Khare
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition

Precio
$ 106,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 23 de jun. - 6 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

150 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 26 de septiembre de 2011
ISBN13 9781461285953
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 150
Dimensiones 155 × 235 × 9 mm   ·   249 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Jitendra B. Khare ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )