From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing - Jitendra B. Khare - Libros - Springer - 9780792397144 - 30 de abril de 1996
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Jitendra B. Khare
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing 1996 edition

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Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

150 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de abril de 1996
ISBN13 9780792397144
Editores Springer
Páginas 150
Dimensiones 155 × 235 × 11 mm   ·   417 g
Lengua Inglés  

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