Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Hisham Haddara - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461285847 - 26 de septiembre de 2011
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Hisham Haddara
Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Precio
$ 158,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 23 de jun. - 6 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

The need for more deep and extensive characterization of MOSFET param eters has further increased as the applications of this device have gained ground in many new fields in which its performance has become more and more sensi tive to the properties of its Si - Si0 interface.

232 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 26 de septiembre de 2011
ISBN13 9781461285847
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 232
Dimensiones 155 × 235 × 13 mm   ·   358 g
Lengua Inglés  
Editor Haddara, Hisham

Mere med samme udgiver

Ver todo de Hisham Haddara ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )