Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Libros - Springer London Ltd - 9781447160687 - 22 de febrero de 2014
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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

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This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


218 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 22 de febrero de 2014
ISBN13 9781447160687
Editores Springer London Ltd
Páginas 218
Dimensiones 155 × 235 × 15 mm   ·   317 g
Lengua Inglés  

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