Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Libros - Springer London Ltd - 9781447124696 - 13 de enero de 2012
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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

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This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


240 pages, 113 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 13 de enero de 2012
ISBN13 9781447124696
Editores Springer London Ltd
Páginas 218
Dimensiones 155 × 235 × 18 mm   ·   453 g
Lengua Inglés  

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