Soft Errors in Modern Electronic Systems - Frontiers in Electronic Testing - Michael Nicolaidis - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441969927 - 30 de septiembre de 2010
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Michael Nicolaidis
Soft Errors in Modern Electronic Systems - Frontiers in Electronic Testing 2011 edition

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Provides a comprehensive presentation of the research results and technological developments enabling understanding, qualifying and mitigating the soft errors effect in advanced electronics, including the fundamental physical mechanisms of radiation induced soft errors, the various steps that lead to a system failure, and more.

336 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de septiembre de 2010
ISBN13 9781441969927
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 318
Dimensiones 155 × 235 × 19 mm   ·   644 g
Lengua Inglés  
Editor Nicolaidis, Michael

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