Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 21 de septiembre de 2011
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J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 21 de septiembre de 2011
ISBN13 9781441952875
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 204
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
Lengua Inglés  

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