Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402070761 - 30 de junio de 2002
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J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits 2002 edition

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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de junio de 2002
ISBN13 9781402070761
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 204
Dimensiones 160 × 240 × 14 mm   ·   539 g
Lengua Inglés  

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