Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies - Mohamed Elgamel - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441938442 - 29 de octubre de 2010
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Mohamed Elgamel
Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies 1st Ed. Softcover of Orig. Ed. 2006 edition

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Presents a range of CAD algorithms and techniques for synthesizing and optimizing interconnect Provides insight & intuition into layout analysis and optimization for interconnect in high speed, high complexity integrated circuits

160 pages, 1, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 29 de octubre de 2010
ISBN13 9781441938442
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 160
Dimensiones 156 × 234 × 8 mm   ·   235 g
Lengua Inglés  

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