Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Alberto Bosio - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909374 - 4 de noviembre de 2009
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Alberto Bosio
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 2010 edition

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Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.

171 pages, 22 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 4 de noviembre de 2009
ISBN13 9781441909374
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 171
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   439 g
Lengua Inglés  

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